Sistemas de medición láser [Spanish]

By Luis García Lechuga

En la actualidad el sector industrial requiere de t cnicas que permitan el an lisis de sus productos sin contacto, o en la l nea de producci n, en muchos de los casos la calidad de objetos transparentes como acr licos, vidrios, lentes, espejos entre otros, debe ser medida con una precisi n del orden de micr metros es decir, que no tengan desviaciones o errores mayores de la longitud de onda; en otros sectores algunas muestras org nicas microsc picas tambi n deben ser cuantificadas, a n sin contar con microscopios de potencia, por lo que un problema de inter s es medir las deformaciones de estas superficies u objetos respecto a una referencia o forma ideal. En este libro se presenta un sistema interferom trico para analizar estructuras transparentes y que son de inter s para el sector industrial; para este fin se implement una t cnica de corrimiento de fase por polarizaci n para obtener la informaci n de las deformaciones ocasionadas por el objeto transparente.Se presentan los resultados obtenidos con microestructuras transparentes. Esta investigaci n forma parte de la Iniciativa de Creaci n de la Primera Ingenier a en ptica y Fot nica de Iberoam rica.

• Format: Paperback
• Language: Spanish
• ISBN: 3639559932
• ISBN13: 9783639559934
• Release Date: October 2014
• Publisher: Publicia
• Length: 208 Pages
• Weight: 0.69 lbs.
• Dimensions: 0.5" x 6.0" x 9.0"