Zuverlässige Bauelemente Für Elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung [German]

by Titu-Marius I. Bjenescu

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverl ssigkeit sind erg nzt... This description may be from another edition of this product.

• Format: Hardcover
• Language: German
• ISBN: 3658221771
• ISBN13: 9783658221775
• Release Date: January 2020
• Publisher: Springer Vieweg
• Length: 639 Pages
• Weight: 3.00 lbs.
• Dimensions: 1.4" x 6.7" x 9.7"