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Paperback Wachstum und Charakterisierung von CRXW1-XSE2-Einkristallen [German] Book

ISBN: 6200677719

ISBN13: 9786200677716

Wachstum und Charakterisierung von CRXW1-XSE2-Einkristallen [German]

bergangsmetall-Dichalcogenid ist eine Familie von d nnen Halbleitermaterialien in Form von MX2, wobei M f r die bergangsmetalle Molybd n (Mo), Wolfram (W), Vanadium (V) usw. und X f r Chalcogenatome Schwefel (S), Selen (Se), Tellur (Te) steht. Die bergangsmetallschicht ist zwischen Schichten von Chalkogenatomen eingebettet. Aufgrund ihrer ausgezeichneten elektrischen und chemischen Eigenschaften, der hohen Mobilit t der Ladungstr ger, des geringen Stromverbrauchs, der hohen Flexibilit t und Dehnbarkeit, des geringen Gewichts, der guten mechanischen Robustheit und der Umweltstabilit t haben sich diese Materialien als geeignet f r flexible Gassensoranwendungen erwiesen.

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Format: Paperback

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