Un bistouri logique fiable avec une approche évolutive

By: Raghavaraju, Aradhyula

Nous proposons une nouvelle approche ?volutive pour r?duire le DP pendant le test ? vitesse ?lev?e des circuits s?quentiels avec le LBIST bas? sur le balayage en utilisant le sch?ma de lancement sur capture. Ceci est r?alis? en r?duisant le facteur d'activit? du CUT, par une modification appropri?e des vecteurs de test g?n?r?s par le LBIST des circuits int?gr?s s?quentiels. La g?n?ration d'une chute de puissance significative (PD) pendant le test ? vitesse ?lev?e effectu? par le LBIST (Logic Built-In Self Test) est une pr?occupation s?rieuse pour les circuits int?gr?s modernes.

• Format: Paperback
• Language: French
• ISBN: 6205684624
• ISBN13: 9786205684627
• Release Date: February 2023
• Publisher: Editions Notre Savoir
• Length: 64 Pages
• Weight: 0.23 lbs.
• Dimensions: 0.1" x 6.0" x 9.0"