Un bist logico affidabile con approccio scalabile [Italian]

By Aradhyula Raghavaraju

Proponiamo un nuovo approccio scalabile per ridurre la PD durante il test a velocit? di circuiti sequenziali con LBIST basato su scansione, utilizzando lo schema launch-on-capture. Ci? si ottiene riducendo il fattore di attivit? della CUT, mediante un'adeguata modifica dei vettori di test generati dall'LBIST dei circuiti sequenziali. La generazione di un significativo power droop (PD) durante il test a velocit? costante eseguito dal Logic Built-In Self Test (LBIST) ? un problema serio per i circuiti integrati moderni.

• Format: Paperback
• Language: Italian
• ISBN: 6205684640
• ISBN13: 9786205684641
• Release Date: February 2023
• Publisher: Edizioni Sapienza
• Length: 64 Pages
• Weight: 0.23 lbs.
• Dimensions: 0.1" x 6.0" x 9.0"