Uma lista lógica fiável com abordagem escalável

By Aradhyula Raghavaraju

Propomos uma nova abordagem escal?vel para reduzir a PD durante o teste a velocidade de circuitos sequenciais com LBIST baseado em scan, utilizando o esquema de lan?amento sobre captura. Isto ? conseguido atrav?s da redu??o do factor de actividade do CUT, atrav?s da modifica??o adequada dos vectores de teste gerados pela LBIST de circuitos sequenciais. A gera??o de queda significativa de pot?ncia (PD) durante o teste de velocidade realizado pelo Logic Built-In Self Test (LBIST) ? uma s?ria preocupa??o para os CI modernos.

• Format: Paperback
• Language: Portuguese
• ISBN: 6205684667
• ISBN13: 9786205684665
• Release Date: February 2023
• Publisher: Edicoes Nosso Conhecimento
• Length: 64 Pages
• Weight: 0.23 lbs.
• Dimensions: 0.1" x 6.0" x 9.0"