Ce travail traite de l''analyse de texture cristallographique de c ramiques et de couches minces du compos YBa2Cu3O7 et de l''effet de cette texture sur les propri t s supraconductrices, principalement la densit de courant critique Jc. La diffraction des rayons X a surtout t utilis e, compl t e pour certains chantillons par la diffraction de neutrons. Dans le cas de l''utilisation des rayons X, les corrections de d focalisation indispensables l''analyse quantitative des orientations pr f rentielles dans des couches minces et des multicouches ont t d velopp es. Les chantillons massifs les plus textur s ont t labor s par des techniques d riv es du Melt Textured Growth. L''importance de la texture sur Jc dans ces chantillons est clairement mise en vidence. Pour les couches minces h t ro- pitaxi es, l''utilisation de diff rents substrats va en d faveur de MgO, notamment cause d''interfaces perturb es. Jc est reli e quantitativement au degr de texture des films. La pr sence en volume de faibles orientations secondaires (dont un mod le de quantification est d crit) diminue de fa on importante Jc.
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