Testverfahren in Der Mikroelektronik: Methoden Und Werkzeuge [German]

By Wilfried Daehn

Die Akzeptanz mikroelektronischer Systeml sungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen h ngt in starkem Ma e von der Fehlerfreiheit und Zuverl ssigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gew hrleisten. Die Komplexit t heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen berblick ber die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formlierung der Testaufgabe zieht sich dabei als roter Faden durch das ganze Buch, von der Fehlermodellierung bis hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.

• Format: Paperback
• Language: German
• ISBN: 3642644562
• ISBN13: 9783642644566
• Release Date: October 2011
• Publisher: Springer
• Length: 219 Pages
• Weight: 0.74 lbs.
• Dimensions: 0.5" x 6.1" x 9.2"