Polysilizium-Heaterstrukturen für den Einsatz in hochbeschleunigten Zuverlässigkeitstests auf Waferebene [German]

by David Weinberger

Bachelorarbeit aus dem Jahr 2011 im Fachbereich Elektrotechnik, Note: 1, Hochschule Mittweida (FH) (Elektro- und Informationstechnik), Sprache: Deutsch, Abstract: Diese Bachelorarbeit soll die Grundlage f r hochbeschleunigte Zuverl ssigkeitstests auf Waferebene unter Verwendung von In-Situ-Heizelementen aus polykristallinem Silizium bilden. Nach einer Einf hrung in die Zuverl ssigkeitstheorie wird eine Auswahl an Zuverl ssigkeitstest vorgestellt...

• Format: Paperback
• Language: German
• ISBN: 3656276706
• ISBN13: 9783656276708
• Release Date: September 2012
• Publisher: Grin Verlag
• Length: 78 Pages
• Weight: 0.25 lbs.
• Dimensions: 0.2" x 5.8" x 8.3"