Polymere Ein- und Mehrschichtmaterialien für die Kalibrierung moderner festkörperspektroskopischer Messsysteme [German]

By Gregor Christoph Schwartze

Doktorarbeit / Dissertation aus dem Jahr 2013 im Fachbereich Chemie - Analytische Chemie, Note: 1,0, Gottfried Wilhelm Leibniz Universit t Hannover (Naturwissenschaftliche Fakult t), Sprache: Deutsch, Abstract: In vielen modernen funktionellen Materialien werden d nne Schichten und Folien unterschiedlicher Materialzusammensetzung im Mikro- und Nanometerbereich kombiniert. Insbesondere polymere Beschichtungssysteme wurden seit jeher f r verschiedene technische Anwendungen verwendet (z.B. als Beschichtung von Werkzeugen oder Ger ten, Automobillackierungen etc.). Um bestimmte optische, elektrische, magnetische oder mechanische Eigenschaften beeinflussen oder generieren zu k nnen, werden meist anorganische F ller in eine Polymermatrix eingearbeitet, so dass funktionali-sierte Polymerschichten synthetisiert werden k nnen. F r die Quantifizierung solcher Mehrschichtstrukturen mithilfe von r ntgenfluoreszenzspektroskopischen- oder massenspektrometrischen Messsystemen und eine sp tere Validierung dieser Analysentechniken werden polymere Mehrschichten als Referenzmaterial ben tigt, deren Analytkonzentrati-onen und Schichtdicken genau definiert sind. Messsysteme wie die dreidimensionale R ntgenfluoreszenzanalyse (3D μRFA), ns-Laserablation-Quadrupolmassenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ns-LA-ICP-QMS) und Flugzeit-Sekund rionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) werden zurzeit (weiter-)entwickelt oder sind erst seit kurzem verf gbar. Diese konfokalen oder tiefensensitiven Messsysteme erlauben eine semi- oder zerst rungsfreie Bestimmung anorganischer und/oder organischer Komponenten mit der Probentiefe. Zur Quantifizierung mit diesen Messmethoden m ssen Referenzmaterialien einer definierten Schichtdicke mit st chiometrischen Mengen an r ntgen- oder massenspektrometrisch detektierbaren Substanzen pr pariert werden, welche bisher kommerziell nicht verf gbar sind. Zudem stellen solche Messsysteme hohe Anspr che an ein solches Referenzmaterial im Hinblick auf die elemen

• Format: Paperback
• Language: German
• ISBN: 3656446040
• ISBN13: 9783656446040
• Release Date: June 2013
• Publisher: Grin Verlag
• Length: 202 Pages
• Weight: 0.60 lbs.
• Dimensions: 0.5" x 5.8" x 8.3"