Die vorliegende Arbeit wird im Team SIAM (Spectroscopy & Atomic Imaging of Materials) der Universit t Cadi Ayyad durchgef hrt. Sie besteht darin, die Lumineszenz von Proben aus Ni, Cr, Ti und den Oxiden NiO und Cr2O3 mithilfe der SIPS-Technik zu untersuchen. Die Targets werden mit 5 keV Kr+-Ionen in einem Winkel von 65 zur Normalen beschossen und der untersuchte Spektralbereich erstreckt sich vom nahen UV bis zum sichtbaren Licht. Die von uns durchgef hrten Studien k nnen wie folgt zusammengefasst werden: * Nachweis der optischen Emissionen der Sputterprodukte der drei Metalle Nickel, Chrom und Titan sowie ihrer Oxide, die im Vakuum (besser als 10-7 Torr) beschossen wurden. * Interpretation der Wirkung von Sauerstoff auf die Lumineszenzspektren. * Pr fung und Anwendung des Elektronenaustauschmodells. Sch tzung der Elektronenaffinit t und der Bandl cke (Gap) von Oxiden.
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