Este livro abrangente oferece uma explora o aprofundada das metodologias essenciais em difra o de raios X de cristal nico (SCXRD) e cristalografia estrutural. Come ando com os princ pios de recolha de dados e indexa o de reflex o, o livro guia os leitores atrav s dos meandros do tratamento de dados, avalia o de qualidade e determina o de simetria. dada especial nfase s melhores pr ticas para aplicar a an lise de grupos espaciais, aperfei oar modelos at micos e garantir a fiabilidade dos resultados estruturais.Concebido para servir tanto como uma ferramenta de ensino como uma obra de refer ncia, este volume destina-se a estudantes de p s-gradua o, investigadores e profissionais em cristalografia, ci ncia dos materiais e ci ncias moleculares.
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