Microscopie à force atomique dynamique [French]

By Jerome Polesel and Polesel-J

Depuis la premi re image en r solution atomique par microscopie force atomique (AFM), les avanc es de cette technique de champ proche permettent aujourd''hui de manipuler des atomes temp rature ambiante sur des surfaces conductrices ou isolantes. La compr hension du fonctionnement de cette machine complexe et l''optimisation des r glages des nombreux asservissements est un des objectifs de cet ouvrage. A cette fin, un formalisme analytique provenant des m thodes de l''Automatique non-lin aire sera introduit pour traiter de fa on intuitive les blocs de r gulation de la machine mais aussi pour traiter l''interaction pointe-surface comme une fonction de transfert. Puis, le r le capital de la pointe et sa caract risation seront trait s travers une m thode exp rimentale simple et originale. Cette m thode se base sur l'' tude des changements non-lin aires des propri t s de r sonance de la sonde. Les forces conservatives lectrostatiques et van der Waals seront quantifi es. Les forces chimiques seront mises en vidence en mesurant la dissipation de la sonde interagissant avec la surface. Des perspectives seront donn es pour am liorer la stabilit et le pouvoir de r solution en AFM.

• Format: Paperback
• Language: French
• ISBN: 6131559546
• ISBN13: 9786131559549
• Release Date: January 2011
• Publisher: Univ Europeenne
• Length: 260 Pages
• Weight: 0.85 lbs.
• Dimensions: 0.6" x 6.0" x 9.0"