Ce travail porte sur l' tude des m canismes de luminescence de nanocristaux de silicium (nc-Si) de taille contr l e. Les mat riaux tudi s sont des couches minces de SiO2 contenant des nc-Si confin s. La structure des films est caract ris e par spectroscopie d'absorption infrarouge, diffraction de rayons X et microscopie lectronique transmission. La distribution en taille des nc-Si est mesur e, montrant que la taille est contr l e avec une faible...