La Diffraction Coha(c)Rente Des Rayons X

By Jacques-V and Vincent Jacques

La diffraction coherente des rayons X est une technique relativement recente, qui permet de realiser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matiere dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace reel a l'aide d'algorithmes bases sur des calculs de transformee de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut etre appliquee a l'etude de defauts de phase isoles tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent etre reconstruits sans algorithme. Il apparait que la technique peut en principe surpasser en resolution la topograhie X, technique de choix pour les etudes de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi ete imagees. Nous montrons egalement que de reelles conclusions physiques peuvent etre tirees, a travers l'etude de defauts de phase de structures electroniques dans des systemes developpant des ondes de densite de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdene K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systemes etudies dans ce travail. Un certain nombre de questions liees a la structure statique et dynamique de ces cristaux electroniques sont soulevees, et des modeles theoriques sont proposes."

• Format: Paperback
• Language: French
• ISBN: 6131509239
• ISBN13: 9786131509230
• Release Date: July 2010
• Publisher: Omniscriptum
• Length: 272 Pages
• Weight: 0.89 lbs.
• Dimensions: 0.6" x 6.0" x 9.0"