Dieses umfassende Buch bietet eine eingehende Untersuchung der wesentlichen Methoden der Einkristall-R ntgenbeugung (SCXRD) und der Strukturkristallographie. Es bietet einen klaren, schrittweisen Weg von der Erfassung von Beugungsrohdaten bis zur endg ltigen Validierung verfeinerter Kristallstrukturen, beginnend mit den Grunds tzen der Datenerfassung und Reflexionsindexierung und f hrt den Leser durch die Feinheiten der Datenverarbeitung, Qualit tsbewertung und Symmetriebestimmung. Besonderes Augenmerk wird auf bew hrte Verfahren f r die Anwendung der Raumgruppenanalyse, die Verfeinerung von Atommodellen und die Gew hrleistung der Zuverl ssigkeit von Strukturergebnissen gelegt.Dieses Buch ist sowohl als Lehrmittel als auch als Nachschlagewerk konzipiert und richtet sich an Studenten, Forscher und Fachleute aus den Bereichen Kristallographie, Materialwissenschaften und Molekularwissenschaften.
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