Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

By Andrew Thye Shen Wee, Andrew T. S. Wee, Chi Sin Tang

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einf?hrung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzfl?cheneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von D?nnschichtmaterialien.

• Format: Paperback
• Language: English
• ISBN: 3527349510
• ISBN13: 9783527349517
• Release Date: April 2022
• Publisher: Wiley-Vch
• Length: 208 Pages
• Weight: 0.75 lbs.
• Dimensions: 0.4" x 6.7" x 9.6"