Les interconnecteurs repr?sentent une pi?ce ma?tresse des piles ? combustibles ? oxyde solide car ils sont charg?s de collecter et de d?livrer les ?lectrons produits lors de la r?action ?lectrochimique du coeur de pile. Ces mat?riaux doivent donc ?tre stables sous air et sous vapeur d'eau. Ce travail vise ? ?tudier l'influence d'un mince rev?tement d'oxydes d'?l?ments r?actifs r?alis? par MOCVD sur le comportement ? haute temp?rature des alliages Crofer22APU, Haynes230 et Fe30Cr. La r?alisation de tests de longue dur?e (15 400 heures) s'est av?r?e ?tre riche en enseignements. Le suivi cin?tique, la caract?risation des couches d'oxyde et la d?termination du param?tre ASR ont permis d'?tablir que la pr?sence de rev?tement permettaient d'am?liorer sensiblement la conductivit? ?lectrique des mat?riaux d'interconnecteurs. Sous atmosph?re anodique, m?me si les ?l?ments r?actifs conservent leur effet b?n?fique, les cin?tiques de corrosion sont plus rapides. L'augmentation de la porosit? de la couche, l'am?lioration de l'adh?rence et la diminution de la taille des grains d'oxyde portent ? croire que la diffusion anionique devient pr?pond?rante sous vapeur d'eau.
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