Les particules charg?es peuvent avoir des effets n?fastes sur les engins spatiaux et les composants ?lectroniques. Les effets du rayonnement des particules ? haute ?nergie provoquent la charge de la surface du vaisseau spatial, la d?gradation ou la d?faillance permanente des composants et sous-syst?mes ?lectroniques par des effets d'?v?nement unique, des dommages de d?placement et des effets de dose ionisante dans le vaisseau spatial. Les effets des transitoires de charge induits par les ions peuvent ?tre divis?s en trois cat?gories de base: La dose ionisante totale (TID), le transfert d'?nergie lin?aire (LET) et les perturbations dues ? un ?v?nement unique (SEU).L'effet TID est une accumulation d'?nergie ionisante d?pos?e sur une longue p?riode sur les mat?riaux semi-conducteurs. L'effet TID est l'accumulation de l'?nergie ionisante d?pos?e sur une longue p?riode sur les mat?riaux semi-conducteurs. La perte ou le transfert total d'?nergie vers le mat?riau par unit? de distance de parcours ? travers le mat?riau est appel? TLE Les dispositifs ?lectroniques peuvent ?tre perturb?s par le passage d'?lectrons ?nerg?tiques, de protons ou d'ions plus lourds qui peuvent modifier l'?tat d'un circuit, produisant des "effets d'?v?nement unique". SEU et multiple-bit upset (MBU) qui modifient l'?tat logique des noeuds internes du circuit. Elles peuvent ?tre r?initialis?es par diff?rentes op?rations ?lectriques. Ces erreurs sont appel?es soft errors et sont r?cup?rables.
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