Instrumentação de Monitorização da Radiação Espacial [Portuguese]

By Keyur Mahant

As part?culas carregadas podem causar efeitos adversos nas naves espaciais e nos componentes electr?nicos. Os efeitos de radia??o das part?culas de alta energia causam carga superficial da nave espacial, degrada??o ou falha permanente dos componentes electr?nicos e dos sub sistemas por efeitos de evento ?nico, danos de deslocamento e efeitos de dose ionizante na nave espacial. Os efeitos de transientes de carga induzidos por i?es podem ser divididos nas tr?s categorias b?sicas: Dose ionizante total (TID), transfer?ncia linear de energia (LET) e perturba??o por evento ?nico (SEU). O efeito TID ? a acumula??o de energia ionizante depositada durante um longo per?odo sobre materiais semicondutores. A TID ocorre principalmente devido aos electr?es e pr?tons, o que pode causar falha do dispositivo. A perda ou transfer?ncia total de energia para o material por unidade de dist?ncia de viagem atrav?s do material ? chamada LET Os dispositivos electr?nicos podem ser perturbados pela passagem de electr?es energ?ticos, pr?tons ou i?es mais pesados que podem alterar o estado de um circuito, produzindo "efeitos de evento ?nico". SEU e perturba??es de m?ltiplos bits (MBU) que alteram o estado l?gico dos n?s internos do circuito. Pode ser reposto por diferentes opera??es el?ctricas. Estes erros s?o chamados soft errors, que s?o recuper?veis.

• Format: Paperback
• Language: Portuguese
• ISBN: 6205308886
• ISBN13: 9786205308882
• Release Date: October 2022
• Publisher: Edicoes Nosso Conhecimento
• Length: 52 Pages
• Weight: 0.20 lbs.
• Dimensions: 0.1" x 6.0" x 9.0"