In-Situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science

by Gerhard Dehm

Von den Grundlagen ?ber das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Ph?nomenen bis hinunter zum Nanoma stab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen ?berblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; au erdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.

• Format: Hardcover
• Language: English
• ISBN: 3527319735
• ISBN13: 9783527319732
• Release Date: May 2012
• Publisher: Wiley-Vch
• Length: 402 Pages
• Weight: 2.00 lbs.
• Dimensions: 0.9" x 6.9" x 9.6"