Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica [Italian]

By Dr. Vanarajsinh Solanki

Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalit (cio , contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande variet di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.

• Format: Paperback
• Language: Italian
• ISBN: 6204698052
• ISBN13: 9786204698052
• Release Date: May 2022
• Publisher: Edizioni Sapienza
• Length: 52 Pages
• Weight: 0.20 lbs.
• Dimensions: 0.1" x 6.0" x 9.0"