Estudo da microestrutura dos pós [Portuguese]

By Abdelghani Lakel and Sabrina Roguai

Idealmente, a difra o de raios X por um cristal produz picos de Dirac nos ngulos de difra o; a representa o gr fica da intensidade difractada em fun o do ngulo 2 designada por diagrama de difra o, difractograma ou espetro de difra o.A an lise dos padr es de difra o conduz interpreta o das estruturas e das propriedades microestruturais das amostras cristalizadas. No entanto, existem v rios factores que influenciam a posi o e a largura do pico e a intensidade difractada, incluindo a dispers o espetral, a refra o, o fator de absor o e o fator de Lorentz.

• Format: Paperback
• Language: Portuguese
• ISBN: 6208844231
• ISBN13: 9786208844233
• Release Date: July 2025
• Publisher: Edicoes Nosso Conhecimento
• Length: 52 Pages
• Weight: 0.18 lbs.
• Dimensions: 0.1" x 6.0" x 9.0"