Esplorazione del nitruro di tantalio: Uno studio tribologico sui film sottili [Italian]

By Dharmesh Chauhan, DivyeshKumar Dave, Kamlesh Chauhan

I film sottili svolgono un ruolo importante nello sviluppo e nello studio di materiali con propriet nuove e uniche. I film sottili sono molto utili nel mondo moderno per il loro vantaggio di modificare le propriet della superficie di un materiale sfuso in base alle nostre esigenze. I film sottili possono essere depositati su materiali sfusi mediante due tipi di processi: la deposizione fisica da vapore e la deposizione chimica da vapore. L'obiettivo principale del presente lavoro sintetizzare un rivestimento a base di nitruro di tantalio su substrati di vetro, silicio, ottone e acciaio dolce utilizzando il processo di sputtering magnetronico a radiofrequenza. Abbiamo studiato l'effetto del tempo di deposizione e della variazione della portata di azoto sulle propriet strutturali e tribologiche del rivestimento a base di nitruro di tantalio. Il tempo di deposizione del rivestimento stato variato da 20 a 80 minuti. La portata di azoto stata variata da 5 a 30 sccm. Per determinare la struttura e la topografia superficiale del rivestimento sono stati utilizzati il diffrattometro a raggi X (XRD) e la microscopia a forza atomica (AFM). Per determinare le propriet tribologiche del rivestimento stato utilizzato il tribometro a disco.

• Format: Paperback
• Language: Italian
• ISBN: 6206321282
• ISBN13: 9786206321286
• Release Date: August 2023
• Publisher: Edizioni Sapienza
• Length: 112 Pages
• Weight: 0.39 lbs.
• Dimensions: 0.3" x 6.0" x 9.0"