Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ist eine leistungsf hige Methode zur Untersuchung der mikroskopischen Struktur von Materialien und Werkstoffen. Neue Ger teentwicklungen, wie etwa die Korrektur von Linsenfehlern und die Entwicklung brillanterer Elektronenquellen, haben die Leistungsf higkeit der Mikroskope in j ngster Zeit erheblich gesteigert. Im gleichen Zug steigen damit auch die Anforderungen an die Probenpr paration, die die Qualit t und Aussagekraft von TEM-Untersuchungen stark mitbestimmt und in vielen F llen begrenzt. Dieses Buch besch ftigt sich mit der Anwendung und Entwicklung innovativer Pr parationsverfahren f r die Transmissionselektronenmikroskopie. Dazu wurden neuartige Methoden entwickelt und angewandt, um die steigenden Anforderungen an die Probenpr paration zu erf llen. Im Rahmen mehrerer Kooperationen innerhalb des Erlanger Exzellenzclusters "Engineering of Advanced Materials" wurden diese Methoden auf unterschiedliche Materialsysteme und Bauelemente angewandt und detaillierte mikroskopische Untersuchungen durchgef hrt, um zu einem tieferen Verst ndnis von Struktur-Eigenschaftsbeziehungen und damit zu einer Optimierung der Materialien beizutragen.
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