Emissões ópticas de produtos de pulverização de metais Ni, Cr, Ti [Portuguese]

By Lamiae Jadoual

Este trabalho est a ser realizado pela equipa SIAM (Spectroscopy and Atomic Imaging of Materials) da Universidade Cadi Ayyad. Trata-se de utilizar a t cnica SIPS para estudar a luminesc ncia de amostras de Ni, Cr, Ti e dos xidos NiO e Cr2O3. Os alvos s o bombardeados com i es Kr+ de 5 keV num ngulo de 65 em rela o normal, e a gama espetral explorada estende-se do UV pr ximo ao vis vel. Os estudos que efectu mos podem ser resumidos da seguinte forma: * Demonstra o das emiss es pticas dos produtos de pulveriza o cat dica de tr s metais: n quel, cr mio e tit nio e respectivos xidos, bombardeados no v cuo (melhor que 10-7 torr). * Interpreta o do efeito do oxig nio nos espectros de luminesc ncia. * Exame e aplica o do modelo de troca de electr es. Estimativa da afinidade eletr nica e do "band gap" dos xidos.

• Format: Paperback
• Language: Portuguese
• ISBN: 620861211X
• ISBN13: 9786208612115
• Release Date: January 2025
• Publisher: Edicoes Nosso Conhecimento
• Length: 96 Pages
• Weight: 0.31 lbs.
• Dimensions: 0.2" x 6.0" x 9.0"