Ein zuverlässiges logisches Bist mit skalierbarem Ansatz [German]

By Aradhyula Raghavaraju

Wir schlagen einen neuartigen, skalierbaren Ansatz zur Verringerung der TE w?hrend des At-Speed-Tests von sequentiellen Schaltungen mit scan-basiertem LBIST unter Verwendung des Launch-on-Capture-Schemas vor. Dies wird durch die Verringerung des Aktivit?tsfaktors der CUT erreicht, indem die von der LBIST erzeugten Testvektoren f?r sequenzielle ICs entsprechend modifiziert werden. Die Erzeugung eines signifikanten Leistungsabfalls (PD) w?hrend des von Logic Built-In Self Test (LBIST) durchgef?hrten At-Speed-Tests ist ein ernstes Problem f?r moderne ICs.

• Format: Paperback
• Language: German
• ISBN: 6205684616
• ISBN13: 9786205684610
• Release Date: February 2023
• Publisher: Verlag Unser Wissen
• Length: 68 Pages
• Weight: 0.25 lbs.
• Dimensions: 0.2" x 6.0" x 9.0"