Ce memoire presente les travaux de conception et de realisation d'un banc de mesures de parametres electriques et optiques dedie au diagnostic de defaillances de systemes optoelectroniques emissifs infrarouge (880 - 1550 nm). Des simulations physiques non-lineaires par elements finis ont ete effectuees afin de determiner la susceptibilite thermomecanique d'un module optoelectronique emissif complet DFB 1550 nm."
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