Este livro apresenta um estudo experimental aprofundado do comportamento dos trans stores SiC JFET para aplica es aeroespaciais exigentes. descrita uma metodologia completa, incluindo a conce o de um banco de ensaios automatizado utilizando LabView, testes de robustez para determinar a energia cr tica e testes de envelhecimento acelerado para monitorizar as altera es nos par metros el ctricos. Os resultados obtidos evidenciam indicadores de degrada o fi veis e abrem perspectivas interessantes para a conce o de sistemas electr nicos mais resistentes em ambientes extremos.
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