Conception Et Etude de la Fiabilité Des Amplificateurs de Puissance [French]

By Thomas Qu Merais and Thomas Quemerais

Avec l'emergence d'applications millimetriques telles que le radar automobile ou le WHDMI, la fiabilite est devenue un enjeu extremement important pour l'industrie. Dans un emetteur/recepteur radio, les problemes de fiabilite concernent principalement les transistors MOS integres dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement eleve des puissances. Ce livre concerne la conception et l'etude de la fiabilite des amplificateurs de puissance fonctionnant aux frequences millimetriques en technologies CMOS avancees. Le memoire est articule autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l'etude, la conception, la modelisation et la caracterisation des elements actifs et passifs integres sur silicium et utilises pour realiser des amplificateurs de puissance aux frequences millimetriques. Le 3eme chapitre decrit les trois amplificateurs de puissance concus et realises pour les tests de fiabilite. Enfin, le dernier chapitre propose une etude complete de la fiabilite de ces circuits jusqu'au calcul de leur temps de vie"

• Format: Paperback
• Language: French
• ISBN: 6131544751
• ISBN13: 9786131544750
• Release Date: February 2011
• Publisher: Omniscriptum
• Length: 216 Pages
• Weight: 0.71 lbs.
• Dimensions: 0.5" x 6.0" x 9.0"