Os planos de amostragem s o, em geral, classificados em duas categorias, a saber, amostragem lote a lote por atributos e amostragem lote a lote por vari veis. A amostragem lote a lote por atributos aplicada quando a caracter stica de qualidade em considera o um atributo. Quando a caracter stica de qualidade mensur vel numa escala cont nua, o plano de amostragem associado conhecido como amostragem lote a lote por vari veis. Na inspe o lote a lote por vari veis, uma ou mais amostras de itens s o retiradas de um determinado lote; as medi es de uma caracter stica de qualidade em cada item amostrado s o feitas; e a decis o de aceita o ou rejei o do lote tomada em fun o dessas medi es. A teoria da inspe o por vari veis aplic vel quando a caracter stica de qualidade dos itens amostrados mensur vel numa escala cont nua e se presume que a forma funcional da distribui o de probabilidade conhecida. Os dados de medi o obtidos a partir de um processo de produ o apresentar o qualquer tipo de distribui o de probabilidade. Este estudo centra-se na conce o e avalia o de tais planos de amostragem sob distribui es de vida til normais e n o normais.
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