Berührungslose Defektanalytik von Halbleitermaterialien [German]

By Dr Torsten Hahn and Dr. Torsten Hahn

Die hochempfindliche Methode der Microwave Detected Photoconductivity" (MDP) wird eingesetzt, um technologisch relevante Halbleiterparameter wie die Ladungstragerlebensdauer, Photoleitfahigkeit und... This description may be from another edition of this product.

• Format: Paperback
• Language: German
• ISBN: 3838124405
• ISBN13: 9783838124407
• Release Date: May 2011
• Publisher: Sudwestdeutscher Verlag Fur Hochschulschrifte
• Length: 152 Pages
• Weight: 0.51 lbs.
• Dimensions: 0.3" x 6.0" x 9.0"