Les plaques/panneaux sont les principaux l ments porteurs dans de nombreuses applications structurelles. Ces structures sont souvent compl t es par des poutrelles, des nervures et des raidisseurs afin d'am liorer la r sistance et d'optimiser le poids, et sont appel es plaques et coques renforc es. L'analyse de ces structures raidies est donc d'une importance pratique. En raison de l'absence d'un mod le analytique robuste pour l'analyse de ces structures, l'utilisation d'une m thode num rique informatis e comme la m thode des l ments finis (EF) semble tre la seule option possible. Le pr sent ouvrage donne un aper u de l' tat actuel des connaissances en mati re d'analyse par l ments finis de ces plaques renforc es. En outre, un mod le d' l ments finis de plaques raidies plus efficace, robuste et simple est d velopp et sa pr cision et son efficacit sont d montr es pour l'analyse de plaques raidies composites lamin es et fonctionnellement gradu es de formes diff rentes et de configurations de raidisseurs variables.
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