Ziel der vorgestellten Arbeit war die Analyse und Darstellung einer Fallstudie ber den Wechsel der Pr ftechnik f r elektronische Leiterplatten von der In-Circuit-Pr fung zur optischen Inspektion mit dem Schwerpunkt auf der Verbesserung der Produktqualit t bei Intelbras S/A. Um diese Arbeit zu erm glichen, wurden die Methoden der visuellen Inspektion, des In-Circuit-Testers (ICT) und der automatisierten optischen Inspektion (AOI) beschrieben. Die Bereiche der automatischen Best ckung (SMT) und der drahtlosen Telefonmontage innerhalb von Intelbras S/A wurden vorgestellt. Schlie lich wurde die Studie beschrieben, die das Unternehmen dazu veranlasste, seine Pr fmethode vom In-Circuit-Test auf die optische Inspektion umzustellen. Die vorgestellte Arbeit erwies sich als effektiv, denn sie bewies, dass die optischen Inspektionsmaschinen eine h here Qualit tsgarantie bieten als die In-Circuit-Tests und Fehler aufsp ren, die mit der vorherigen Methode nicht erkannt worden w ren.
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