L'objectif de ce travail tait d'analyser et de pr senter une tude de cas sur le changement de technologie de test des cartes lectroniques, du test en circuit l'inspection optique, en mettant l'accent sur l'am lioration de la qualit des produits chez Intelbras S/A. Afin de rendre ce travail possible, les m thodes d'inspection visuelle, de testeur en circuit (ICT) et d'inspection optique automatis e (AOI) ont t d crites. Les secteurs de l'insertion automatique (SMT) et de l'assemblage de t l phones sans fil au sein d'Intelbras S/A ont t pr sent s. Enfin, l' tude qui a conduit l'entreprise changer sa m thode de test en passant du test en circuit l'inspection optique a t d crite. Le travail pr sent s'est av r efficace, prouvant que les machines d'inspection optique offraient une meilleure garantie de qualit que les tests en circuit, d tectant des d fauts qui n'auraient pas t d tect s avec la m thode pr c dente.
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