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Paperback Ab-initio-Untersuchung von Heusler-Legierungen für fortschrittliche eingebettete Systeme [German] Book

ISBN: 6630136942

ISBN13: 9786630136944

Ab-initio-Untersuchung von Heusler-Legierungen für fortschrittliche eingebettete Systeme [German]

Diese Studie befasst sich mit der Untersuchung der strukturellen, elektronischen, optischen und elastischen Eigenschaften von vollst ndigen Heusler-Legierungen vom Typ X₂TaSi (wobei X = Rb und K) sowie der Verbindung Mn₂HfAl. Es wurden ab initio-Berechnungen im Rahmen der Dichtefunktionaltheorie (DFT) unter Verwendung der Methode der linearisierten, auf den Integralpotential erweiterten ebenen Wellen (FP-LAPW) durchgef hrt. Alle Berechnungen wurden mit dem Programm WIEN2k durchgef hrt, wobei zun chst die verallgemeinerte Gradientenapproximation (GGA) und anschlie end die modifizierte Becke-Johnson-Methode (mBJ-GGA) verwendet wurde, um die Genauigkeit der Sch tzung der Energiel cke zu verbessern. Die elektronischen Ergebnisse zeigen, dass die untersuchten Verbindungen ein ausgepr gtes Halbleiterverhalten aufweisen, das durch die Elektronenbandstruktur bestimmt wird. Die f r die Verbindungen K₂TaSi und Rb₂TaSi durchgef hrten optischen Berechnungen zeigen eine starke Absorption sowie ein hohes Reflexionsverm gen im ultravioletten Bereich, was auf ihr Potenzial f r optische und optoelektronische Anwendungen in diesem Spektralbereich hindeutet.

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